爱德万测试(Advantest Corp.)推出全新 T2000 8GWGD 测试设备，提供结合每秒采样速率达8Gsps的波形产生器和8GHz数位器的模组，可应用于 HDD 硬碟等巨量储存装置中的系统单晶片(SoC)测试。

　　爱德万测试SoC事业资深副总裁Hans-Juergen Wagner表示，面对一日千里的云端运算市场，客户可透过爱德万全新测试机台驾驭云端运算数十亿颗硬碟、全球无可计数的伺服器阵列。」

　　T2000 测试机台提供8GWGD (8Gsps 波形产生器 / 8GHz数位器模组) 与8GDM (8Gbps 数位模组)，可处理储存巨量资料的 SoC 内部高速 SerDes 实体层 (PHY) 介面与复杂高速的类比波形挑战。

　　这套新模组可透过任意波形产生器(AWG)产生 PRML (Partial Response Maximum Likelihood，最大回应可能可能性) 波形等复杂讯号，及多种频率的多频波形，测试高速类比转数位转换器和类比前端设备 (包括前置放大器)。其独特之处在于闸输出可与 AWG 同步化，实现高精准度计时。

　　此套新模组的讯号撷取数位器可提升系统产能、执行高频宽类比量测，同时也为视图、上升/下降时间、时间传播延迟量测、周期抖动(Cycle-to-Cycle Jitter)和累积性抖动(Long-Term Jitter) 提供测试解决方案。透过这些功能，客户将能测试高速数位转类比转换器和前置放大器，及高速数位介面和锁相回路 (PLL) 设备。